X-ışını spektroskopisi nedir? ” YerelHaberler

X-ışını spektroskopisi, elektromanyetik spektrumun X-ışını kısmındaki dalga boylarında fotonları veya ışık parçacıklarını algılayan ve ölçen bir tekniktir. Bilim adamlarının bir nesnenin kimyasal ve temel özelliklerini anlamalarına yardımcı olmak için kullanılır. Arkeoloji, astronomi ve mühendislik dahil olmak üzere birçok bilim ve teknolojide kullanılan birçok farklı X-ışını spektroskopisi yöntemi vardır. Bu yöntemler, analiz edilen malzeme veya nesnenin …

Devamını Oku

Odaklanmış X-ışını tomografisinin çalışma prensibi

Bilim ve teknolojinin gelişmesiyle birlikte son teknoloji ekipmanlara olan ihtiyaç her geçen gün artmaktadır. İlk olarak, çıplak gözle görülemeyen küçük nesneleri görüntülemek için ışık mikroskopları kullanıldı. Daha sonra, yüksek çözünürlüklü görüntüleme araçlarına duyulan ihtiyaçla birlikte, daha net ve daha doğru iki boyutlu görüntüler veren elektron mikroskopları tanıtıldı.Genellikle, 2B bölümlerin mikrograflarında 3B özellikler oluşturmak için stereolitografi …

Devamını Oku

Odaklanmış X-ışını tomografisinde malzemelerin karakterizasyonu ve uygulamaları «YerelHaberler

Herhangi bir malzemenin şeklinin ve morfolojisinin özellikleri üzerindeki temel etkisini incelemek için, biçimini bilmek ve incelemek gerekir. Odaklanmış iyon ışını (FIB) tomografisi, üç boyutlu bir kimyasal ve yapısal ilişki çalışması tekniğidir. FIB cihazları, taramalı elektron mikroskobuna (SEM) benzer, ancak tarama için kullanılan ışında önemli bir fark vardır.SEM için tarama ortamlı elektron ışını kullanılırken, FIB tarama …

Devamını Oku