Odaklanmış X-ışını tomografisinin çalışma prensibi
Bilim ve teknolojinin gelişmesiyle birlikte son teknoloji ekipmanlara olan ihtiyaç her geçen gün artmaktadır. İlk olarak, çıplak gözle görülemeyen küçük nesneleri görüntülemek için ışık mikroskopları kullanıldı. Daha sonra, yüksek çözünürlüklü görüntüleme araçlarına duyulan ihtiyaçla birlikte, daha net ve daha doğru iki boyutlu görüntüler veren elektron mikroskopları tanıtıldı.Genellikle, 2B bölümlerin mikrograflarında 3B özellikler oluşturmak için stereolitografi …
